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X射线衍射法（XRD）是一种强大的非破坏性技术，能够提供天然和合成固体的结构表征，包括粉末，薄膜，单晶和聚晶体。X射线衍射实验室提供了各种各样的测量技术，这些技术使用现代XRD仪器（由Rigaku Corporation，Japan）和最强大的商业软件，玉器（MDI，USA）的组合。这些许可证在实验室条件下可以实现的材料几乎所有类型的结构表征。这些方法包括：

• 定性相位分析，包括使用PDF-4 +数据库（ICDD）的自动搜索/匹配;
• 定量相位分析，包括结晶度的评估;
• 格子参数评估（需要样品的精确定位）;
• 微晶尺寸的微陶器和评价测定（相干散射长度<300 nm）;
• 绘图方法的晶体结构细化;
• 使用极值映射纹理确定;
• 残余应力测量;
• 互惠空间映射;
• 薄膜对表面粗糙度的厚度，密度和估计的反射率;
• 使用GE（220）2-Bounce单色器和分析仪的高分辨率测量;
• GE（220）4-Bounce单色器，提供单波长（k_A1）X射线;
• 用于需要受控环境的材料的毛细管样品架和/或具有严重优先定向的材料在平板样品架上;
• 衍射测量在温度范围内的材料：-180°至300°C;
• 衍射测量在温度范围内的材料：环境至1000°C;
• 真空测量（10^-2mbar）或在特定的气体气氛中（例如N₂， 他）
• 广角和小角度X射线散射 - （蜡/萨克斯） - 在传输中，使用高分辨率二维固体状态探测器;
• 纹理薄膜的平面内测量;
• 表面映射确定结构异质性;
• 可以在零背景Si或石英板上反射测量粉状样品。