关于服务

电子光谱单元包含超高真空（UHV）多方面系统，用于在10以下的压力下的表面分析^-9托尔。提供各种技术：

1. X射线光电子能谱（XPS） - 一种提供表面（外〜10nm）组成，元素氧化状态的定量分析探针以及沿着垂直轴的表面原子布置的高分辨率信息。可以以3μm分辨率获得表面元素浓度的横向映射。
2. 紫外光电子能谱（UPS） - 一种用于改进的能量分辨率测量的技术 - 电子能带和二次电子发射（参见）光谱。UPS也可用于导出样本工作功能。
3. 扫描螺旋钻显微镜（SAM） - 一种技术互补XPS，在我们的设置中以改善的横向分辨率提供表面化学分析，下降至200nm。
4. 与AR的离子散射光谱（ISS）⁺或者他⁺源光束，提供改善表面敏感性的互补化学信息。
5. 化学解决电气测量（CREM） - 一种新的基于XPS的技术，在我们的实验室中开发，以提供NM级电气来自所选曲面和子表面域的信息。这包括（1）内层的I-V曲线;（2）子表面字段和工作函数映射;（3）具体域的光伏;（4）有机分子层中的原子尺度电特性;（5）热电子传输特性;（6）新型热电测量;（7）软介电击穿检查方法;和更多。